Home
|
Sitemap
English
/
中文
生產技術
研發設備
技術藍圖
首頁 > 技術創新 >
研發設施
達邁主要研發設施介紹如下
分析原物料純度、含水量,並以FTIR-TGA-OM之整合性系統分析薄膜之化學組成
氣相層析儀
水份測試儀
FTIR光譜儀-TGA-OM
針對不同配方進行合成,以精密塗佈機製成薄膜後進行各種物性分析
模擬合成反應設備
薄膜塗佈機
薄膜裁片機
分析/量測PI薄膜表面性質,包括表面型態、粗度、接觸角、表面自由能
光學顯微鏡
表面粗度儀
接觸角儀
測量機械性質、熱性質等基本物性
拉力計
二次元量測儀
TMA熱性質分析儀
測量PI的電氣性質,如介電常數、逸散因子、破壞電壓值
介電分析儀
表面/體積阻抗儀
關於達邁
|
產品介紹
|
技術創新
|
品質/環境/安全
|
投資人資訊
|
人才資源
|
最新消息
|
連絡我們
達邁科技股份有限公司 Tel:886-3-589-6088 Fax: 886-3-589-6099
台灣 305 新竹縣新埔鎮文德路三段127號 服務信箱 : marketing@taimide.com.tw Design : TENG