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達邁主要研發設施介紹如下
 

分析原物料純度、含水量,並以FTIR-TGA-OM之整合性系統分析薄膜之化學組成

氣相層析儀
水份測試儀
FTIR光譜儀-TGA-OM



針對不同配方進行合成,以精密塗佈機製成薄膜後進行各種物性分析

模擬合成反應設備
薄膜塗佈機
薄膜裁片機

 
分析/量測PI薄膜表面性質,包括表面型態、粗度、接觸角、表面自由能

光學顯微鏡
表面粗度儀
接觸角儀

 
測量機械性質、熱性質等基本物性

拉力計
二次元量測儀
TMA熱性質分析儀

 
測量PI的電氣性質,如介電常數、逸散因子、破壞電壓值

介電分析儀
表面/體積阻抗儀

 

 


 

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